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010 $a: 978-7-121-08293-1$d: CNY69.00
100 $a: 20090521d2009 em y0chiy0110 ea
101 $a: chi$c: eng
102 $a: CN$b: 110000
105 $a: y z 000yy
106 $a: r
200 $a: 混合信号集成电路测试与测量$A: hun he xin hao ji cheng dian lu ce shi yu ce liang$f: (美)Mark Burns,(美)Gordon W. Roberts等著$g: 冯建华,肖钢等译
210 $a: 北京$c: 电子工业出版社$d: 2009
215 $a: 15,531页$d: 26cm
300 $a: 国外电子与通信教材系列
305 $a: 本书由美国Oxford University Press授权出版
330 $a: 本书共16章,内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精确性、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DtT)、数据分析和测试经济学。
510 $a: Introduction to mixed-signal IC test and measurement$z: eng
606 $a: 混合集成电路$A: hun he ji cheng dian lu$x: 测试技术$j: 教材
690 $a: TN450.7$v: 5
701 $c: (美)$a: 罗伯茨$A: luo bo ci$c: (Roberts, Gordon W.)$4: 著
702 $a: 肖钢$A: xiao gang$4: 译
801 $a: CN$b: 044002$c: 20140504
905 $d: TN450.7$r: CNY69.00$e: 310

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