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混合信号集成电路测试与测量
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ISBN/ISSN：978-7-121-08293-1
中图分类号：TN450.7
出版：北京 :电子工业出版社 ,2009
并列题名：Introduction to mixed-signal IC test and measurement
简介：本书共16章，内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精确性、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DtT)、数据分析和测试经济学。
责任者：伯恩斯 4著 罗伯茨 4著 冯建华 4译 肖钢 4译
载体形态：15,531页 ;26cm
附注：国外电子与通信教材系列
- 混合集成电路
- --测试技术
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